WEKO3
アイテム
中性子耐性を考慮した電子デバイスの高信頼化技術および安全技術に関する研究
http://hdl.handle.net/10649/908
http://hdl.handle.net/10649/90866f6f636-2709-48da-be55-d3765f30ab97
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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論文要旨_abstract (192.2 kB)
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論文審査結果の要旨_review (143.5 kB)
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本文_fulltext (17.5 MB)
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| アイテムタイプ | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2018-04-26 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 中性子耐性を考慮した電子デバイスの高信頼化技術および安全技術に関する研究 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| アクセス権 | ||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||
| 著者 |
鳥羽, 忠信
× 鳥羽, 忠信
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| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||||
| 学位審査委員 | ||||||||
| 教授（主査） 平尾裕司、教授 安井寛治、教授 門脇敏、教授 福田隆文、准教授 木村哲也 | ||||||||
| 学位授与機関 | ||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||
| 学位授与機関識別子 | 13102 | |||||||
| 学位授与機関名 | 国立大学法人長岡技術科学大学 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2018-03-26 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第851号 | |||||||
